負(fù)性阻抗測試
2015-9-7 11:54:11??????點(diǎn)擊：
負(fù)性阻抗測試
負(fù)性阻抗是指從石英晶振的二個(gè)端子向振蕩線路看, 所得到振蕩線路在振蕩頻率時(shí)的阻抗特性值.
負(fù)性阻抗并不是石英晶振的產(chǎn)品參數(shù), 但卻是振蕩線路的一項(xiàng)重要特性參數(shù). 主要由于晶振兩端的外接電容以及晶振匹配后整體的板子電容影響
而晶振的起振是由于電路中的噪音引起的,隨著諧振的增加, 逐漸達(dá)到穩(wěn)定的石英晶體頻率和一定的幅度.稱之為諧振(共振)
噪音就是雜亂無章的振蕩頻率,晶體頻率是穩(wěn)定的頻率,經(jīng)過一定時(shí)間,晶體的頻率會從許多頻率中拖影而出,從而振蕩器的頻率穩(wěn)定在晶體的頻,而負(fù)性阻抗是在起振時(shí)振蕩頻率的阻抗特性值
因此負(fù)性阻抗值越大，產(chǎn)品越容易起振，一般電子產(chǎn)品的負(fù)性阻抗要求>3~5倍的晶振阻抗 .
1）先在晶振回路中加一個(gè)可變電阻RX
2）起始RX=0,然后慢慢加大RX直到示波器無波形輸出
3）記錄RX值
4）與常溫阻抗特性比較，要求>3倍，完成匹配
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